Use this url to cite Standard: https://hdl.handle.net/20.500.12259/287327
Metalinių plonųjų sluoksnių savitojo laidžio matavimas naudojant mikrobangų ir milimetrinių bangų dažnius. Balansinio apskritojo diskinio rezonatoriaus metodas (IEC 63616:2025)
ID
722494
Reference
LST EN IEC 63616:2026
Original Reference
EN IEC 63616:2026
Title
Metalinių plonųjų sluoksnių savitojo laidžio matavimas naudojant mikrobangų ir milimetrinių bangų dažnius. Balansinio apskritojo diskinio rezonatoriaus metodas (IEC 63616:2025)
Other Title
Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method (IEC 63616:2025)
Contributor
Lietuvos standartizacijos departamentas
Date Issued
2026-03-16
Technical Committee
TK 1 Elektronika
Foreign Technical Committee
CLC/SR 46F Aukštadažniai ir mikrobanginiai pasyvieji komponentai
Subject
| No | Subject |
|---|---|
29.050 | Superlaidumas ir laidžiosios medžiagos |
17.220.20 | Elektrinių ir magnetinių dydžių matavimas |
Document
| Document | Language | Pages |
|---|---|---|
en | 15 |
Active
Taip / Yes
Access Conditions
open access
Date of Submission
2026-03-10